SMD型晶体器件用高速温度测试装置（PTTA-C5ZⅡ）

类别：

PFA

编号 :

这是测试SMD型石英晶体震动子和晶体振荡器温度特性的设备。以高精度帕尔帖元件和独创操控, 实现均匀的温度分布。只需更换载具治具, 即可测量不同的工件尺寸。

● 与连接恒温槽相比, 较节省空间。

● 在支援1008 的小型 PKG 的同时实现 0.5 秒的节拍时间。

● 设定温度-40°C~120°C（5槽） (例：-40℃/0℃/25℃/50℃/120℃)

● 测点温度分布精度±1℃。

设备尺寸	W2450xD1100xH1700（冷水机组放置在设备背面）
工件尺寸	陶瓷PKG　3.2x2.5mm ~ 1.0x0.8mm
运输方式	转移到专用载具（64 件）中，在槽中运输和测量
分类	BOX分类收纳（按OK品及各种NG类型分类）
扩展与应用	可根据要求客制化 ■支援托盘供应和收纳 ■可以设定每个槽的温度（可扩展至最多达 7 个槽） ■可应用于石英晶体器件以外的温度特性检测

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